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        光切法顯微鏡 9J(JBQ)
      顯微鏡 >> 顯微鏡 >> 測量顯微鏡.光切法顯微鏡

      產品名稱:光切法顯微鏡
      產品型號:9J(JBQ)

      詢購熱線: 021-65730171

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      本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規定▽3-9級表面光潔度。

      對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

      光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。

       

      測量范圍不平度平均高度值

      0.81.6微米

      >1.66.3微米

      >6.320微米

      >2080微米

      表面光潔度級別

      9

      87

      65

      43

      所需物鏡

      60N.A.0.55

      30N.A.0.40

      14N.A.0.20

      7N.A.0.12

      總放大倍數

      510×

      260×

      120×

      60×

      物鏡組件工作距離

      0.04mm

      0.2mm

      2.5mm

      9.5mm

      視場

      0.3mm

      0.6mm

      1.3mm

      2.5mm

      攝影裝置放大倍數

      6×

      測量不平度范圍

      0.880)微米

      不平度寬度

      用測微目鏡

      0.7微米~2.5mm

       

      用座標工作臺

      0.0113mm

      儀器重量

      23kg

      外形尺寸

      180×290×470mm

       

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